ПО ACS для тестирования полупроводниковых пластин

Компания Keithley Instruments объявила о расширении пакета ПО для выполнения автоматизированной характеризации (Automated Characterization Suite, ACS). Пакет ACS теперь оптимизирован для задач автоматизированного тестирования параметров полупроводниковых пластин, включая автоматизированную характеризацию, анализ надежности и проверку годности кристаллов. Обновление ACS V5.0 повышает возможности высокомощных источников тока и напряжения компании Keithley, входящих в группу System SourceMeter Source Measure Unit (SMU): модели 2651A (источник высокого тока) и модели 2657A (источник высокого напряжения). Эти устройства позволяют выполнять автоматизированную проверку полупроводниковых пластин силовых устройств, таких как силовые MOSFET, IGBT, BJT, диоды и т. п.

Улучшения ACS V5.0:

• Библиотеки силовых устройств для применения с источником тока модели 2651A (до 50 или 100 А, при соединении двух устройств) и источником напряжения модели 2657A (до 3000 В) поддерживают тестирование многовыводных силовых компонентов в сочетании с источниками меньшей мощности серии 2600 B группы SourceMeter SMU или анализатором параметров модели 4200-SCS.
• Управление источниками модели 2651A и 2657A (аппаратное сканирование, распознавание, конфигурация) позволяет подключить эти устройства к ПК.
• Поддержка инструментов серии 2600 SMU, оснащенных шиной TSP-Link.
• Набор образцовых проектов — как стартовая точка для создания собственных тестов.